Xandex Home
Search
XZIF Interconnect
Transmission Line
Interface Solutions
XZIF 両面高密度インターコネクト (XZIF DS-HD)
第 2 世代高密度 Xandex ゼロ インサーション フォース インターコネクト (XZIF)
仕様:
Printable PDF Version
DUT Interconnect Sequence Flash Animation
XZIF Presentation
第 1 世代の XZIF インターコネクトと比較して、DS-HD 電気パスの帯域幅が飛躍的に大きくなり、その電気特性では接触耐久性が 2 倍になりました。
モジュール式 XZIF インターコネクトは、多種多様な検査要件に適合するよう調整することが可能です。 これは、揮発性メモリ検査、不揮発性メモリ検査、SOC 検査での使用に最適なソリューションであり、また、DUT に対する動的な大電流伝送にとって理想的です。
また、XZIF インターコネクトでは、接触圧の方向を垂直 (スプリング プローブ) から水平 (クランプ) に変更することにより、DUT 検査ボード上での圧縮力が 90% 近く削減されます。
第 2 世代 XZIF DS-HD インターコネクト アセンブリ
XZIF DS-HD インターコネクトのサイクル
Narrow型 XZIF 両面高密度インターコネクト (XZIF DS-HDn)
高密度メモリ検査用にNarrow型フォーム ファクタで登場した高密度 Xandex ゼロ インサーション フォース インターコネクト (XZIF)
第 1 世代の XZIF フレキシブル インターコネクトと比較して、DS-HDn XZIF では、高密度チャネル対応を目的としたインターポーザ技術と優れた直流接触抵抗を活用しています。
モジュール式 XZIF インターコネクトは、多種多様な検査要件に適合するよう調整することが可能です。 これは、揮発性メモリ検査や不揮発性メモリ検査での使用に最適なソリューションです。 Narrow型フォーム ファクタ クランプは、特に、露出部分が大きな小さめのプローブ カード (300 + mm) や大きめのプローブ カード (440 + mm) での使用に効果的です。
第 2 世代 XZIF DS-HDn インターコネクト アセンブリ
440 mm プローブカード 1 枚あたりの接触:>13,000
440 mm
XZIF DUTコネクタは、2 本の装着ねじにより数分で現場交換可能
高密度
(1 ピンあたり 2.2 オンス)
接続性
Home | Site Map | Contact Us | Interface Products | Inker Products | Online Ordering Copyright © 2001-2008 Xandex, Inc. All rights reserved. Email product inquiries to: info@xandex.com Email site problems to: webmaster@xandex.com Updated June 17, 2008