ATE-Interface-Produkte
 | | Xandex entwickelt und fertigt Test-Interface- und hochpräzise Docking-Systeme für Automatische Testsysteme (Automated Test Equipment - ATE). Die während der Wafer-Sortierung und bei Gehäusetests eingesetzten Xandex-Lösungen für Übertragungsleitungen wurden speziell für die Signalübertragung im Gigahertz-Bandbreitenbereich bei Halbleiter-Probing-Anwendungen entwickelt. Xandex kann auf mehr als 20 Jahre Erfahrung bei der Konstruktion und Herstellung von Produkten für Halbleiter-Testumgebungen und bei der Entwicklung von Interface-Lösungen zurückblicken, die den Leistungsanforderungen heutiger und zukünftiger ATE-Plattformen gerecht werden und diese bei weitem übertreffen. |  |  | ATE-Übertragungsleitungslösungen (Englisch)
Qualitativ hochwertige Digital-, Analog-, HF- und Strom-/Versorgungs-Koaxialkabelmodule, Komponenten und Probing-Module für ATE-Interfaces. | | |  | Vakuum-Interfacing (Englisch)
Die Vakuum-Interface-Technik von Xandex ermöglicht eine bisher nicht gekannte Wiederholbarkeit und Parallelität beim Wafer-Probing. | | |  | Prober-Tester-Interfaces (Enclisch)
Hervorragende elektrische und mechanische Eigenschaften, die speziell für eine Vielzahl von Tester-Plattformen entwickelt wurden. | | |  | Docking-Systeme (Englisch)
Prezisionsausrichtung von Testköpfen. | | |  | Probecard-/Load Board-Modul (Enblisch)
Austauschbares Load Board, Interface und Probecard im ultraflachen Gehäuse. | | | | Wenden Sie sich jetzt an einen ATE-Kundenbetreuer! |
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